X射線探傷暗袋鉛字像質計
簡要描述:X射線探傷暗袋鉛字像質計是測定射線照片的射線照相靈敏度的器件,根據在底片上顯示的像質計的影像,可以判斷底片影像的質量,并可評定透照技術、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗能力等
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- 廠商性質:生產廠家
- 更新時間:2024-04-18
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X射線探傷暗袋鉛字像質計詳細介紹
像質計(像質指示器,透度計)是測定射線照片的射線照相靈敏度的器件,根據在底片上顯示的像質計的影像,可以判斷底片影像的質量,并可評定透照技術、膠片暗室處理情況、缺陷檢驗能力等。目前,zui廣泛使用的像質計主要是三種:絲型像質計、階梯孔型像質計、平板孔型像質計,此外還有槽型像質計和雙絲像質計等。像質計應用與被檢驗工件相同或對射線吸收性能相似的材料制做。各種像質計設計了自己特定的結構和細節(jié)形式,規(guī)定了自己的測定射線照相靈敏度的方法。
X射線探傷暗袋鉛字像質計規(guī)格、價格:
360mm*80mm 單價36元
300mm*80mm 單價36元
240mm*80mm 單價36元
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